Verios 是 FEI 領先的(de) XHR(極高(gāo)分辨率)SEM 系列的(de)第二代産品。在尖端半導體制造和(hé)材料科學(xué)應用中,它可(kě)在 1 至 30 kV 範圍內(nèi)提供亞納米量級分辨率以及增強的(de)對比度,滿足材料精密測量所需,同時又不會削弱傳統掃描電子(zǐ)顯微鏡 (SEM) 所具有的(de)高(gāo)吞吐量、分析能力、樣本靈活性和(hé)易用性等優勢。