新的(de)Prisma環境掃描電子(zǐ)顯微鏡(SEM)結合了廣泛的(de)成像和(hé)分析模式與全新的(de)先進的(de)自(zì)動化,以提供在同類儀器中的(de)最完整的(de)解決方案。它是理(lǐ)想的(de)工業研發,質量控制和(hé)故障分析應用,提供高(gāo)分辨率,樣品的(de)靈活性和(hé)易于使用的(de)操作界面。Prisma E SEM成功地(dì)超越了著名的(de)Quanta SEM掃描電鏡。