易操作、多功能、多用途的(de)X射線衍射儀的(de)新時代!
X射線衍射儀可(kě)在大氣中無損分析樣品,進行物質的(de)定性分析、晶格常數确定和(hé)應力測定等。并且,可(kě)通過峰面積計算進行定量分析。
可(kě)通過半高(gāo)寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密X射線結構解析等各種分析。
LabX XRD-6100
配備高(gāo)精度垂直型測角儀,适用于粉末、薄膜、難于固定的(de)樣品、易溶樣品等各種樣品的(de)測定。 XRD-6100具有本質安全結構。 隻有門連鎖機構閉鎖時,X射線管才能開啓,具備高(gāo)安全性。 配備高(gāo)速運轉(1000°/min)及高(gāo)精度角度重現性(±0.0001°)的(de)垂直型測角儀,可(kě)進行各種樣品的(de)測定。 驅動機構為(wèi)獨立2軸驅動,可(kě)選擇θ-2θ聯動或θ、2θ軸獨立驅動,特别對薄膜測定行之有效。 備有豐富的(de)附件(軟件/硬件)來滿足多種需要。
|
對應工業環境測定标準 · 工業環境評價标準修訂
X射線衍射裝置XRD-6000 環境測定包
适于工業環境中的(de)遊離(lí)矽以及石棉的(de)定性 · 定量分析。
在勞動安全衛生法中,關于因勞動者在工作中的(de)暴露而對其造成健康損害的(de)92種物質,規定必須實施其作業環境的(de)測定。其中,粉塵中的(de)遊離(lí)矽以及石棉的(de)定性·定量分析可(kě)以使用X射線衍射裝置。最近因相關法規的(de)修訂,對有害物質的(de)管理(lǐ)濃度、分析程序進行了修改。
本測定包配備了依據「基底标準吸收校正法」的(de)樣品台和(hé)定量軟件,這不僅是使用X射線衍射裝置XRD-6000對收集在濾紙上的(de)工業環境測定中的(de)遊離(lí)矽、石棉進行定性分析需要的(de),在這些微量樣品的(de)定量分析中也是必備的(de)。
遊離(lí)矽的(de)定性·定量分析
工業環境測定中礦物性粉塵的(de)管理(lǐ)濃度為(wèi)按以下公式計算出的(de)量。(從2005年(nián)4月1日開始實行)
E=3.0/(0.59Q+1) (參考)修訂前E=2.9/(0.22Q+1)E:管理(lǐ)濃度mg/m3 Q:遊離(lí)矽含有率(%)
所以知道(dào)粉塵中遊離(lí)矽酸的(de)含有率是很重要的(de)。
遊離(lí)矽種類有石英、微晶物、鱗石英等。 在此回修訂中,首先規定使用X射線衍射裝置掌握含有什麽種類的(de)遊離(lí)矽(定性分析),根據其定性結果,以使用磷酸法或X射線衍射裝置的(de)基底标準吸收校正法進行定量。
下圖表示這些遊離(lí)矽的(de)衍射模式,分别具有各自(zì)的(de)特征峰,因此,易于識别其種類。
物質的(de)衍射X射線強度因受基底物質吸收的(de)影響,必須進行校正。為(wèi)進行校正必須求得基底物質的(de)X射線吸收系數。可(kě)在一(yī)次的(de)測定中将其完成的(de)方法就是「基底标準吸收校正法」。本測定包包括采用了此基底吸收校正法的(de)專用定量分析軟件。
各種遊離(lí)矽的(de)衍射模式
石棉的(de)定性·定量分析
關于石棉,在2005年(nián)7月實施了【石棉傷害預防規則】。适用此規則的(de)建材等樣品,如(rú)果其石棉含量超過重量5%左右以上,則可(kě)使用X射線衍射裝置以标準添加法或內(nèi)标添加法對采集來的(de)樣品進行定量,但對于少于上述含量的(de)樣品有時不能進行定量。
此時,作為(wèi)隻溶解樣品基底成分的(de)前處理(lǐ)方法,實施甲酸前處理(lǐ)法,然後使用X射線衍射裝置以基底标準吸收校正法進行定量。
在石棉的(de)定性 · 定量分析中,也可(kě)使用配備有基底标準吸收校正法的(de)環境測定樣品台的(de)X射線衍射裝置XRD-6000環境測定包。
各種石棉的(de)衍射模式
石棉主要有蛇紋石類的(de)纖蛇紋石,角閃石類的(de)鐵直閃石、虎睛石等。使用X射線衍射法利用它們的(de)特峰進征行定量分析。
環境測定包
配置 |
| 1. | X射線衍射裝置XRD-6000(2kW,NF Cu管球) | 1套 |
| 2. | 石墨單色儀(CM-3121) | 1套 |
| 3. | 環境測定樣品台(RS-2001) 【規格】· 旋轉樣品台 · 基底标準吸收校正用濾片架(Zn) · 環境定量軟件 | 1套 |
| 4. | 冷卻水循環裝置 | 1套 |
環境測定包
選配件 |
| 1. | 基底标準吸收校正用濾片架(Al) |
| 2. | ICDD數據庫(PDF2 CD-ROM) |
| 3. | PDF2檢索軟件 |