射線衍射儀 XRD-6100

易操作、多功能、多用途的(de)X射線衍射儀的(de)新時代！

 

Ｘ射線衍射儀可(kě)在大氣中無損分析樣品，進行物質的(de)定性分析、晶格常數确定和(hé)應力測定等。并且，可(kě)通過峰面積計算進行定量分析。 
可(kě)通過半高(gāo)寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。

LabX XRD-6100
 

垂直型測角儀 配備高(gāo)精度垂直型測角儀，适用于粉末、薄膜、難于固定的(de)樣品、易溶樣品等各種樣品的(de)測定。 XRD-6100具有本質安全結構。 隻有門連鎖機構閉鎖時，X射線管才能開啓，具備高(gāo)安全性。 配備高(gāo)速運轉（1000°/min）及高(gāo)精度角度重現性（±0.0001°）的(de)垂直型測角儀，可(kě)進行各種樣品的(de)測定。 驅動機構為(wèi)獨立2軸驅動，可(kě)選擇θ-2θ聯動或θ、2θ軸獨立驅動，特别對薄膜測定行之有效。 備有豐富的(de)附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。 對應工業環境測定标準/工業環境評價标準修訂 X射線衍射儀XRD-6100 環境測定包 适合工業環境中的(de)遊離(lí)矽及石棉的(de)定性/定量分析。

對應工業環境測定标準 · 工業環境評價标準修訂

X射線衍射裝置XRD-6000 環境測定包

适于工業環境中的(de)遊離(lí)矽以及石棉的(de)定性 · 定量分析。

在勞動安全衛生法中，關于因勞動者在工作中的(de)暴露而對其造成健康損害的(de)92種物質，規定必須實施其作業環境的(de)測定。其中，粉塵中的(de)遊離(lí)矽以及石棉的(de)定性·定量分析可(kě)以使用X射線衍射裝置。最近因相關法規的(de)修訂，對有害物質的(de)管理(lǐ)濃度、分析程序進行了修改。

本測定包配備了依據「基底标準吸收校正法」的(de)樣品台和(hé)定量軟件，這不僅是使用X射線衍射裝置XRD-6000對收集在濾紙上的(de)工業環境測定中的(de)遊離(lí)矽、石棉進行定性分析需要的(de)，在這些微量樣品的(de)定量分析中也是必備的(de)。 

遊離(lí)矽的(de)定性·定量分析

工業環境測定中礦物性粉塵的(de)管理(lǐ)濃度為(wèi)按以下公式計算出的(de)量。（從2005年(nián)4月1日開始實行）
E=3.0/（0.59Q+1） （參考）修訂前E=2.9/（0.22Q+1）E：管理(lǐ)濃度mg/m3 Q：遊離(lí)矽含有率（%）
所以知道(dào)粉塵中遊離(lí)矽酸的(de)含有率是很重要的(de)。

遊離(lí)矽種類有石英、微晶物、鱗石英等。 在此回修訂中，首先規定使用X射線衍射裝置掌握含有什麽種類的(de)遊離(lí)矽（定性分析），根據其定性結果，以使用磷酸法或X射線衍射裝置的(de)基底标準吸收校正法進行定量。

下圖表示這些遊離(lí)矽的(de)衍射模式，分别具有各自(zì)的(de)特征峰，因此，易于識别其種類。

物質的(de)衍射X射線強度因受基底物質吸收的(de)影響，必須進行校正。為(wèi)進行校正必須求得基底物質的(de)X射線吸收系數。可(kě)在一(yī)次的(de)測定中将其完成的(de)方法就是「基底标準吸收校正法」。本測定包包括采用了此基底吸收校正法的(de)專用定量分析軟件。

各種遊離(lí)矽的(de)衍射模式

石棉的(de)定性·定量分析

關于石棉，在2005年(nián)7月實施了【石棉傷害預防規則】。适用此規則的(de)建材等樣品，如(rú)果其石棉含量超過重量5％左右以上，則可(kě)使用X射線衍射裝置以标準添加法或內(nèi)标添加法對采集來的(de)樣品進行定量，但對于少于上述含量的(de)樣品有時不能進行定量。

此時，作為(wèi)隻溶解樣品基底成分的(de)前處理(lǐ)方法，實施甲酸前處理(lǐ)法，然後使用X射線衍射裝置以基底标準吸收校正法進行定量。

在石棉的(de)定性 · 定量分析中，也可(kě)使用配備有基底标準吸收校正法的(de)環境測定樣品台的(de)X射線衍射裝置XRD－6000環境測定包。

各種石棉的(de)衍射模式

 石棉主要有蛇紋石類的(de)纖蛇紋石，角閃石類的(de)鐵直閃石、虎睛石等。使用X射線衍射法利用它們的(de)特峰進征行定量分析。

環境測定包

環境測定包